薄膜四探針方阻測(cè)試儀HPS58003是一款專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測(cè)試儀配用的四探針測(cè)試探頭，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，塑料薄膜、金屬薄膜、金屬鍍層等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。

           帶彈簧測(cè)試探頭, 接觸可靠, 工作穩(wěn)定, . 使用時(shí)只要把探頭輕輕壓在被測(cè)鍍膜上面,   無(wú)需任何調(diào)節(jié),新款方阻儀用5芯專(zhuān)用插座代替原有的香蕉插座，使得線纜不易折損，探頭的使用壽命極大延長(zhǎng)。

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